名稱 | 含金剛石膜的SOI集成電路芯片材料及其制作工藝 | ||
公開號 | 1109518 | 公開日 | 1995.10.04 |
主分類號 | C30B25/00 | 分類號 | C30B25/00;H01L21/02 |
申請?zhí)?/strong> | 94103623.5 | ||
分案原申請?zhí)?/strong> | 申請日 | ||
頒證日 | 優(yōu)先權 | ||
申請人 | 吉林大學 | 地址 | 130023吉林省長春市解放大路83號 |
發(fā)明人 | 顧長志; 金曾孫; 呂憲義; 鄒廣田 | 國際申請 | |
國際公布 | 進入國家日期 | ||
專利代理機構 | 吉林大學專利事務所 | 代理人 | 王恩遠 |
摘要 | 本發(fā)明是含金剛石膜的SOI集成電路芯片材料及制作工藝,其結構按順序為單晶硅薄層(3)、SiO#-[2]過渡層(5)、金剛石膜(2)、多晶硅(4)。其工藝是在單晶硅片上逐層生長SiO#-[2]過渡層,金剛石膜和多晶硅,再對單晶硅片進行減薄處理。生長金剛石膜是以丙酮為原料氣體,減薄是機械拋光后使用離子束濺射技術。本發(fā)明不經高溫區(qū)熔,工藝簡單,可防止氧及雜質滲入,單晶硅薄層質量好;制作的集成電路具有抗輻射能力強、漏電小、性能穩(wěn)定、界面態(tài)密度低等優(yōu)點?! ? |