名稱 | 弧光放電化學(xué)氣相沉積金剛石薄膜的方法 | ||
公開號(hào) | 1041187 | 公開日 | 1990.04.11 |
主分類號(hào) | C23C16/26 | 分類號(hào) | C23C16/26;C23C16/50 |
申請(qǐng)?zhí)?/strong> | 89107140.7 | ||
分案原申請(qǐng)?zhí)?/strong> | 申請(qǐng)日 | 1989.09.19 | |
頒證日 | 優(yōu)先權(quán) | ||
申請(qǐng)人 | 北京市科學(xué)技術(shù)研究院; 蘭州大學(xué)電子材料研究所 | 地址 | 北京市西外南路19號(hào) |
發(fā)明人 | 蔣翔六; 張仿清 | 國(guó)際申請(qǐng) | |
國(guó)際公布 | 進(jìn)入國(guó)家日期 | ||
專利代理機(jī)構(gòu) | 北京市專利事務(wù)所 | 代理人 | 郭佩蘭 |
摘要 | 一種弧光放電化學(xué)氣相沉積金剛石薄膜的方法,它采用甲烷與氫氣的混合氣體為直流弧光放電等離子體化學(xué)氣相沉積金剛石薄膜的反應(yīng)源氣,甲烷在反應(yīng)源氣中的濃度控制在0.5~2.0%之間,反應(yīng)中還適當(dāng)增大了反應(yīng)源氣的流量,流量范圍為2000~5000標(biāo)準(zhǔn)立方厘米/分。用本發(fā)明提供的方法制備的金剛石薄膜的平均生長(zhǎng)速率為40~60微米/小時(shí)(四小時(shí)的平均值),薄膜中的金剛石晶粒線度可達(dá)50~60微米,本方法與已有方法相比,沉積工藝易于控制,薄膜沉積的重復(fù)性較好?!?/td> |