摘要 申請(qǐng)?zhí)枺?01610191161.2申請(qǐng)人:天津理工大學(xué)發(fā)明人:李翠平楊保和李明吉李紅姬錢莉榮徐晟戴瑋摘要:一種低表面粗糙度納米金剛石膜的制備方法,步驟如下:將拋光Si片超聲清洗以...
申請(qǐng)?zhí)枺?01610191161.2
申請(qǐng)人:天津理工大學(xué)
發(fā)明人:李翠平 楊保和 李明吉 李紅姬 錢莉榮 徐晟 戴瑋
摘要:一種
低表面粗糙度納米
金剛石膜的制備方法,步驟如下:將拋光Si片超聲清洗以除去雜質(zhì)和污染物;采用射頻磁控濺射法在Si襯底上沉積多晶Ti膜;采用丙酮、二甲基亞砜和納米金剛石粉的懸濁液對(duì)襯底進(jìn)行超聲預(yù)處理;在沉積有納米金剛石粉的Ti/Si基片上采用直流噴射CVD法制備
納米金剛石膜。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是:該方法在襯底上制備的Ti過(guò)渡層,使金剛石粉分散的更均勻,使納米金剛石成核更均勻,提高納米金剛石膜的成核密度,降低納米金剛石的表面粗糙度;采用懸濁液對(duì)襯底進(jìn)行超聲預(yù)處理,克服了以往納米金剛石粉在酒精或丙酮中易沉淀,超聲不均勻的現(xiàn)象;該制備方法工藝簡(jiǎn)單、成本低,有利于大規(guī)模的推廣,具有重大的生產(chǎn)實(shí)踐意義。
主權(quán)利要求:1.一種低表面粗糙度納米金剛石膜的制備方法,其特征在于包括如下步驟:1)將拋光Si片依次用超純水、乙醇、丙酮、超純水分別超聲清洗15分鐘,以除去Si片表面的雜質(zhì)和污染物,最后用N2氣吹干;2)將清洗后的Si基片作為襯底,采用射頻磁控濺射法在Si襯底上沉積多晶Ti膜,濺射過(guò)程中采用純度為99.99%的金屬Ti靶材,本底真空度不大于1×10-6Pa,濺射功率為50-100W,Ar氣流量為10sccm,濺射壓強(qiáng)為0.5-1.5Pa,靶基距為5-8cm,襯底不加熱,沉積時(shí)間為5-15min,在Si基片上沉積Ti過(guò)渡層,Ti膜厚度為20-60nm、晶粒尺寸為5-20nm、均方根粗糙度為0.5-1.0nm;3)將納米金剛石粉加入丙酮和二甲基亞砜的混合液中得到懸濁液,將沉積Ti膜過(guò)渡層的Si基片放入上述懸濁液中超聲震蕩2-5h,再用去離子水超聲清洗15min,得到沉積有納米金剛石粉的Ti/Si基片;4)將上述沉積有納米金剛石粉的Ti/Si基片放入帶凹槽的石磨基臺(tái)上,采用直流噴射CVD法制備納米金剛石膜,工藝參數(shù)為:本底真空度不大于100Pa,分別通入H2、Ar和CH4,氣體流量分別是H2為1.0-5.0slpm、Ar為1.0-6.0slpm、CH4為0.1-0.2slpm,腔壓為3000-5000Pa,弧電壓為110-120V,弧電流為80-100A,制備的納米金剛石膜厚度為3-6μm,晶粒平均尺寸為100-150nm,均方根粗糙度約為10-30nm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述低表面粗糙度納米金剛石膜的制備方法,其特征在于:所述丙酮和二甲基亞砜的混合液中丙酮與二甲基亞砜的體積比為1:1,金剛石粉的晶粒平均尺寸為5nm,納米金剛石粉與丙酮和二甲基亞砜的混合液的用量比為1mg:1mL。
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