申請(qǐng)人:華僑大學(xué)
發(fā)明人:姜峰 張濤 言蘭 徐西鵬
摘要:本發(fā)明公開了一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,屬于機(jī)械加工中的材料性能測(cè)試及精密與超精密加工領(lǐng)域,通過將有色金屬試件固定在電主軸上,對(duì)該試件進(jìn)行在線動(dòng)平衡;然后采用金剛石刀具對(duì)該試件進(jìn)行修盤,達(dá)到測(cè)試所需的端面跳動(dòng)以及粗糙度要求;隨后換裝頂端固接有單顆磨粒的工具頭,并在更換過程中進(jìn)行對(duì)刀;最后進(jìn)入劃擦測(cè)試,試件以指定轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn),工具頭以指定切深徑向進(jìn)給,在試件端面形成干涉螺旋形劃痕,測(cè)量系統(tǒng)在此過程中采集劃擦力、聲發(fā)射信號(hào)等物理量。本發(fā)明能夠模擬高速磨削過程磨粒間的干涉行為。相關(guān)測(cè)試結(jié)果可用于磨削機(jī)理的深入研究以及磨削參數(shù)的優(yōu)化。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述步驟4)中,工具頭按照徑向進(jìn)給速度s和劃擦深度ap沿試件徑向進(jìn)給的同時(shí)沿試件旋轉(zhuǎn)軸線方向進(jìn)給。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述磨粒為金剛石、CBN、氧化物陶瓷或氮化物陶瓷,磨粒形狀為球形、圓錐形或多棱錐形;該磨粒通過機(jī)械夾持、電鍍或釬焊固接在工具頭頂端;所述工具頭為壓頭。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述測(cè)量系統(tǒng)為測(cè)力和聲發(fā)射系統(tǒng),包括相互信號(hào)連接的測(cè)力儀、聲發(fā)射系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集卡和信號(hào)放大器;所述工具頭與測(cè)力儀和聲發(fā)射系統(tǒng)相連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述測(cè)力儀的固有頻率高于4KHz,測(cè)力精度優(yōu)于0.01N;所述數(shù)據(jù)采集卡的采樣速度高于2M/s。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述試件為圓盤形;所述步驟2)中,修盤時(shí)金剛石單點(diǎn)刀具的進(jìn)給距離小于試件半徑,所述修盤區(qū)域?yàn)閳A環(huán)形。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述工具頭在沿試件旋轉(zhuǎn)的軸向方向和徑向方向的定位精度均優(yōu)于0.1μm,該定位精度通過位移傳感器及相應(yīng)的位置反饋系統(tǒng)配合控制。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述對(duì)刀儀的定位精度優(yōu)于0.1μm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述的劃痕為連續(xù)螺旋形劃痕,劃痕圈數(shù)大于3個(gè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具預(yù)修有色金屬試件的單顆磨粒連續(xù)劃擦干涉行為測(cè)試方法,其特征在于:所述工具頭軸線平行于試件旋轉(zhuǎn)軸線。