名稱 | 在藍(lán)寶石襯底上異質(zhì)外延生長(zhǎng)碳化硅薄膜的方法 | ||
公開號(hào) | 1369904 | 公開日 | 2002.09.18 |
主分類號(hào) | H01L21/365 | 分類號(hào) | H01L21/365 |
申請(qǐng)?zhí)?/strong> | 01106742.X | ||
分案原申請(qǐng)?zhí)?/strong> | 申請(qǐng)日 | 2001.02.14 | |
頒證日 | 優(yōu)先權(quán) | ||
申請(qǐng)人 | 西安電子科技大學(xué) | 地址 | 710071陜西省西安市太白路2號(hào) |
發(fā)明人 | 郝躍;彭軍 | 國(guó)際申請(qǐng) | |
國(guó)際公布 | 進(jìn)入國(guó)家日期 | ||
專利代理機(jī)構(gòu) | 陜西電子工業(yè)專利中心 | 代理人 | 王品華 |
摘要 | 本發(fā)明涉及一種在藍(lán)寶石襯底上異質(zhì)外延生長(zhǎng)半導(dǎo)體碳化硅薄膜的方法。主要解決在藍(lán)寶石襯底上直接生長(zhǎng)碳化硅薄膜時(shí)薄膜與襯底之間粘附性差,不易核生長(zhǎng)的缺陷。提出一種在藍(lán)寶石襯底與SiC薄膜之間介入一層緩沖層作為過(guò)渡,以減少晶格失配的生長(zhǎng)碳化硅薄膜的方法,即在藍(lán)寶石襯底上先淀積一層AlN材料作為緩沖層,形成復(fù)合襯底,再在其復(fù)合襯底上外延生長(zhǎng)SiC薄膜,形成藍(lán)寶石-緩沖層-碳化硅三層結(jié)構(gòu),在藍(lán)寶石AlN復(fù)合襯底上得到單結(jié)晶的6H-SiC薄膜。本發(fā)明在藍(lán)寶石-氮化鋁復(fù)合襯底上已經(jīng)得到的單結(jié)晶碳化硅薄膜,具有明顯優(yōu)于在硅襯底上得到的薄膜質(zhì)量,其應(yīng)力低于在硅襯底上得到SiC應(yīng)力的5倍,折射率在正常的SiC薄膜范圍內(nèi)之優(yōu)點(diǎn),是制作SiCOI CMOS器件的重要技術(shù),且可保證器件的穩(wěn)定性和可靠性。 |