此次的檢測原理模式圖

　　【日經(jīng)BP社報道】日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所開發(fā)出了利用導電性金剛石的DNA排列檢測技術(shù)。“與以往的檢測技術(shù)相比，成功實現(xiàn)了高出2位數(shù)乃至3位數(shù)的靈敏度”（該研究所）。檢測靈敏度為2pM（皮可摩爾）/L。
　　此次開發(fā)的構(gòu)造為在導電性金剛石的表面制作了10mm間隔的微細“刀山”，并在這些刀山的刀尖上培植探頭DNA。以往的DNA檢測技術(shù)中，在采用金（Au）及碳元素的電極上配置探頭DNA的結(jié)構(gòu)最為常見。
　　當測定對象DNA與探頭DNA結(jié)合形成雙鏈時，流過導電性金剛石的離子電流會減少。通過電流變化，可以檢測有無反應。離子電流之所以減少，是因為形成雙鏈后，使得相鄰的探頭之間間隔變窄，離子流可通過的間隙變小的結(jié)果。
　　由于提高溫度可使結(jié)合的雙鏈分離，因此，能夠使探頭DNA還原為單鏈。目前已經(jīng)確認反復進行100次操作仍可進行穩(wěn)定的檢測。
　　產(chǎn)綜研力爭將其應用于醫(yī)療及食品安全等領(lǐng)域，今后計劃進一步提高靈敏度，推進開發(fā)適應檢測對象的最佳傳感器。