名稱 | 利用注入和橫向擴(kuò)散制造碳化硅功率器件的自對(duì)準(zhǔn)方法 | ||
公開(kāi)號(hào) | 1304551 | 公開(kāi)日 | 2001.07.18 |
主分類號(hào) | H01L21/336 | 分類號(hào) | H01L21/336 |
申請(qǐng)?zhí)?/strong> | 99807102.1 | ||
分案原申請(qǐng)?zhí)?/strong> | 申請(qǐng)日 | 1999.06.07 | |
頒證日 | 優(yōu)先權(quán) | 1998.6.8 US 09/093,207 | |
申請(qǐng)人 | 克里公司 | 地址 | 美國(guó)北卡羅來(lái)納州 |
發(fā)明人 | A·V·蘇沃羅夫;J·W·帕爾穆?tīng)?R·辛格 | 國(guó)際申請(qǐng) | PCT/US99/12714 1999.6.7 |
國(guó)際公布 | WO99/65073 英 1999.12.16 | 進(jìn)入國(guó)家日期 | 2000.12.07 |
專利代理機(jī)構(gòu) | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 陳霽;張志醒 |
摘要 | 通過(guò)掩模中的開(kāi)口在碳化硅襯底中注入p型摻雜劑,形成深p型注入,從而制造碳化硅功率器件。N型摻雜劑通過(guò)掩模中相同開(kāi)口注入到碳化硅襯底中,相對(duì)于深p型注入形成淺n型注入。以足以使深 p型注入橫向擴(kuò)散到包圍淺n型注入的碳化硅襯底表面的溫度和時(shí)間,進(jìn)行退火,同時(shí)不使p型注入通過(guò)淺n型注入縱向擴(kuò)散到碳化硅襯底表面。因此,通過(guò)離子注入可以進(jìn)行自對(duì)準(zhǔn)淺和深注入,通過(guò)促使具有高擴(kuò)散系數(shù)的p型摻雜充分?jǐn)U散,同時(shí)具有低擴(kuò)散系數(shù)的n 型摻雜劑保持相對(duì)固定的退火,可以形成很好控制的溝道。因此,可以在n型源周圍形成p-基區(qū)??梢灾圃鞕M向和縱向功率MOSFETs。 |