檢測(cè)存在于礦石試樣中的金剛石
關(guān)鍵詞 檢測(cè) , 礦石試樣 , 金剛石 |2010-12-09 00:00:00|行業(yè)專(zhuān)利|來(lái)源 中國(guó)超硬材料網(wǎng)
摘要 名稱(chēng)檢測(cè)存在于礦石試樣中的金剛石公開(kāi)號(hào)1083214公開(kāi)日1994.03.02主分類(lèi)號(hào)G01N23/083 
名稱(chēng) |
檢測(cè)存在于礦石試樣中的金剛石 |
公開(kāi)號(hào) |
1083214 |
公開(kāi)日 |
1994.03.02 |
主分類(lèi)號(hào) |
G01N23/083 |
分類(lèi)號(hào) |
G01N23/083;G01N21/59 |
申請(qǐng)?zhí)?/strong> |
93108276.5 |
分案原申請(qǐng)?zhí)?/strong> |
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申請(qǐng)日 |
1993.06.03 |
頒證日 |
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優(yōu)先權(quán) |
[32]1992.6.3[33]GB[31]9211734.0 |
申請(qǐng)人 |
森桑企業(yè) |
地址 |
列支敦士登瓦杜茲 |
發(fā)明人 |
M·-L·龍尼; J·G·C·史密夫; M·P·史密夫 |
國(guó)際申請(qǐng) |
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國(guó)際公布 |
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進(jìn)入國(guó)家日期 |
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專(zhuān)利代理機(jī)構(gòu) |
中國(guó)專(zhuān)利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
程天正; 張志醒 |
摘要 |
為了能在勘探時(shí)準(zhǔn)確而簡(jiǎn)單地檢測(cè)出金剛面,可將巖面試樣破碎成粉末顆粒,并用處理透射過(guò)顆粒薄層的X射線(xiàn)的圖象的方式,來(lái)自動(dòng)地識(shí)別出粉末顆粒中是否含有金剛石顆粒(30)??捎脤⑦@一圖象與透射過(guò)顆粒薄層的另一幅可見(jiàn)光的圖象進(jìn)行比較的方式來(lái)處理圖象。 |
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