申請人:山西大學(xué)
發(fā)明人:范修軍 趙巖 王娟娟 張獻明
摘要:本發(fā)明提供一種制備金剛石薄膜材料的裝置和方法,屬于金剛石薄膜技術(shù)領(lǐng)域。所述的裝置包括:真空系統(tǒng)、熱絲陣列、帶石英管的CVD爐、電控部分。金剛石晶體薄膜的制備方法、步驟包括:硅片清洗、金剛石粉末研磨;在所述裝置的熱絲CVD爐中,氣體為H2、CH4,通過去離子水的H2的氣氛下,生長得到金剛石晶體薄膜。本發(fā)明制備的金剛石晶體薄膜具有結(jié)晶度高、質(zhì)量好,厚度均勻等特點。所述設(shè)備具有成本低、易于維護的特點。金剛石晶體薄膜的制備方法具有生長速度快、薄膜樣品表面均勻,易實現(xiàn)工業(yè)生產(chǎn)等優(yōu)點。

2.如權(quán)利要求1所述的一種制備金剛石薄膜材料的裝置,其特征在于,在石英管(2)兩端伸出CVD爐部分設(shè)置用于降溫的風(fēng)扇(9)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種制備金剛石薄膜材料的裝置,其特征在于,所述的熱絲陣列為數(shù)根鎢絲平行排列構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求1所述的一種制備金剛石薄膜材料的裝置,其特征在于,所述的兩根鉬棒的間距為1—3厘米。
5.一種制備金剛石晶體薄膜材料的方法,其特征在于,包括如下步驟:(1)將硅片依次經(jīng)過甲醇、丙酮和異丙酮超聲清洗,N2吹干,用0.05-0.2mm粗金剛石粉研磨;(2)將步驟(1)處理的硅片置于所述制備金剛石薄膜材料裝置的熱絲陣列的下方0.5-1.0cm處,在CVD爐溫850-1000℃下,氣體流量分別為H2:125-175sccm,CH4:0.3-0.6sccm,通過去離子水的H2為5-25sccm,總氣壓為25-30Torr,熱絲陣列為3-5根鎢絲,熱絲陣列總功率為75-85W,反應(yīng)1-4h即得金剛石晶體薄膜。
6.如權(quán)利要求1所述的一種制備金剛石晶體薄膜材料的方法,其特征在于,所述的粗金剛石粉研磨是用0.1mm粗金剛石粉研磨。