采用碳化硅進(jìn)行的紅外輻射檢測(cè)
關(guān)鍵詞 紅外輻射檢測(cè) |2010-12-24 00:00:00|行業(yè)專利|來(lái)源 中國(guó)超硬材料網(wǎng)
摘要 名稱采用碳化硅進(jìn)行的紅外輻射檢測(cè)公開號(hào)1351763公開日2002.05.29主分類號(hào)H01L31/0312&nbs
名稱 |
采用碳化硅進(jìn)行的紅外輻射檢測(cè) |
公開號(hào) |
1351763 |
公開日 |
2002.05.29 |
主分類號(hào) |
H01L31/0312 |
分類號(hào) |
H01L31/0312 |
申請(qǐng)?zhí)?/strong> |
00807852.1 |
分案原申請(qǐng)?zhí)?/strong> |
|
申請(qǐng)日 |
2000.03.20 |
頒證日 |
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優(yōu)先權(quán) |
1999.5.21__US_09/316,239 |
申請(qǐng)人 |
海特朗股份有限公司 |
地址 |
美國(guó)內(nèi)華達(dá)州 |
發(fā)明人 |
J·D·帕森斯 |
國(guó)際申請(qǐng) |
PCT/US00/07557 2000.3.20 |
國(guó)際公布 |
WO00/72385 英 2000.11.30 |
進(jìn)入國(guó)家日期 |
2001.11.21 |
專利代理機(jī)構(gòu) |
上海專利商標(biāo)事務(wù)所 |
代理人 |
李家麟 |
摘要 |
將最好為單晶形式的碳化硅(6)用作具有高溫和高功率性能的紅外輻射探測(cè)器。其應(yīng)用包括探測(cè)來(lái)自獲取輻射源(2)的功率或能量。 |
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